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  • BSD-PSM碳材料比表面孔隙度測試
    BSD-PSM碳材料比表面孔隙度測試

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號:BSD-PSM

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    碳材料比表面孔隙度測試,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM多孔材料比表面孔隙度測試儀
    BSD-PSM多孔材料比表面孔隙度測試儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號:BSD-PSM

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    多孔材料比表面孔隙度測試儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM石墨比表面孔隙度分析
    BSD-PSM石墨比表面孔隙度分析

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號:BSD-PSM

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    石墨比表面孔隙度分析,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM比表面孔隙度分析儀
    BSD-PSM比表面孔隙度分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號:BSD-PSM

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    比表面孔隙度分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • 鈦白粉比表面孔徑檢測
    鈦白粉比表面孔徑檢測

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號:

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    鈦白粉比表面孔徑檢測,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • 比表面孔徑檢測儀
    比表面孔徑檢測儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號:

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    比表面孔徑檢測儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM比表面孔徑測量
    BSD-PSM比表面孔徑測量

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號:BSD-PSM

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    比表面孔徑測量儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM比表面孔徑測量儀
    BSD-PSM比表面孔徑測量儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號:BSD-PSM

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    比表面孔徑測量儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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